X射線工業CT斷層掃描測量儀
簡要描述：
Werth將X射線掃描(miao)成(cheng)像技術整合到三(san)坐標測(ce)量系(xi)統，WERTH X射線工(gong)業CT斷層掃描(miao)測(ce)量儀(yi)可實現產品無損可視(shi)化(hua)準確(que)測(ce)量，并可選配(pei)光學、光纖、探針、激光掃描(miao)等多(duo)種傳感器。對工(gong)件(jian)(jian)內外部(bu)所有結構尺寸(cun)全面的(de)高精密測(ce)量，同(tong)時可實現工(gong)件(jian)(jian)材質(zhi)的(de)缺(que)陷分析。
產品時(shi)間：2020-06-30
WERTH X射線工業CT斷層掃描測量儀介紹：
德國Werth公司是將X射線掃描成(cheng)像(xiang)技術整合到三坐(zuo)標測量系統(tong)，實現產(chan)品(pin)(pin)無損可(ke)視(shi)化準(zhun)確(que)測量，并(bing)可(ke)選配光(guang)(guang)學、光(guang)(guang)纖、探針、激光(guang)(guang)掃描等(deng)多種(zhong)傳感(gan)器。對(dui)工(gong)件(jian)內外部所有結構尺(chi)寸(cun)全(quan)面的(de)高精(jing)密(mi)測量，同時(shi)可(ke)實現工(gong)件(jian)材質的(de)缺陷分析。可(ke)對(dui)塑(su)料、陶瓷、復合材料、金屬(shu)等(deng)多種(zhong)材質制成(cheng)的(de)產(chan)品(pin)(pin)進行無損尺(chi)寸(cun)測量和裝配評估等(deng)。壓(ya)縮測量周期的(de)同時(shi)，保(bao)證了高品(pin)(pin)質的(de)要求。Werth工業CT斷(duan)層掃描測量儀此機(ji)榮(rong)獲(huo)2005年度(du)歐洲模(mo)具(ju)設計金獎。
WERTH X射線工業CT斷層掃描測量儀特點：
◆ 將(jiang)X射線斷層掃描成(cheng)像(xiang)技(ji)術整合到三(san)坐標測量(liang)系統，實現復雜部(bu)件高精度內外尺寸全面測量(liang)
◆ 可選配(pei)第二個Z軸，配(pei)置其他(ta)傳感器（光(guang)(guang)學(xue)、探 針(zhen)、光(guang)(guang)纖、激光(guang)(guang)等）
◆ Werth公司技術復合式傳(chuan)感器(qi)技術，進(jin)一步保證(zheng) ;CT測量數據更準(zhun)確
◆ 堅固的花(hua)崗巖(yan)基(ji)座，保證(zheng)機器具有高穩(wen)定性
◆ 高(gao)精(jing)密機械軸承技術及線性導軌(gui)系(xi)統，確保實現zui 高(gao)精(jing)度的測量
◆ 無(wu)論從設計還(huan)是結(jie)構，測量機*并超出X射(she)線使用安(an)全標準
◆ 基于Werth公司優異的圖形(xing)處理(li)及(ji)3D重構(gou)技(ji)術，測量速度更(geng)快
◆ ; Werth公司技術的X射線傳(chuan)感(gan)器(qi)獨立校準(zhun)系(xi)統
◆ Werth公司(si)技(ji)(ji)術(shu)的柵格斷層掃(sao)描技(ji)(ji)術(shu)：
精(jing)密測量微小(xiao)部件(jian)
掃描更大尺(chi)寸工(gong)件，提(ti)高分(fen)辨率
擴(kuo)展測量范圍
◆ 測量(liang)軟件可快(kuai)速(su)3D重構，也可進(jin)行2D測量(liang)
◆ 測(ce)量工件內部尺(chi)寸的同(tong)時，也可實現材質缺(que)陷分析(xi)
◆ 選用廣泛應(ying)用的WinWerth軟件 (德國國家計量院PTB長度標(biao)準(zhun)認證(zheng)) ，界面友好，操作簡單
◆ 可使用zui擬合Bestfit及公差擬合Tolerancefit軟件進行輪廓(kuo)匹配(pei)分(fen)析及三(san)維(wei)CAD工件公差比(bi)對
◆ 廣泛應用于復雜尺寸測量，*評估，逆向工程，質量控制(zhi)等
Werth工業CT斷(duan)層掃描測量儀應用(yong)領域: 模具行業(ye)、逆向(xiang)工(gong)(gong)程、汽車(che)行業(ye)、航空航天、精密機械加(jia)工(gong)(gong)、船舶等(deng)。
WERTH X射線(xian)工業CT斷層掃描(miao)測量儀技術參數：
| 型 號 | TomoScope | TomoCheck | TomoScope HV Compact | TomoScope HV |
| zui大測量工件(jian)尺寸(直徑(jing)) | 90mm | 90mm | 350mm | 350mm |
| zui大(da)測量高度 | 200mm | 200mm | 350mm | 500mm |
| zui大(da)允許誤差 (用CT傳感器) | (4,5+L/75) µm | (1,5+L/500) µm | (4,5+L/75) µm | (4,5+L/75) µm |
| zui大(da)允(yun)許誤差(E1:單軸精度) | (2,5+L/120) µm | (0,5+L/900)µm | (2,5+L/120) µm | (2,5+L/120) µm |
| ; (E2:平(ping)面(mian)精度) | (2,9+L/100) µm | (0,7+L/600) µm | (2,9+L/100) µm | (2,9+L/100) µm |
| ; (E3:空間精度) | (4,5+L/75) µm | (1,5+L/500) µm | (4,5+L/75) µm | (4,5+L/75) µm |
| X射線(xian)源 | 130kV(150,190kV可(ke)選) | 130kV | 225kV | 225kV(450kV可(ke)選) |
| X射線探測器(qi)像素(su) | 1024x1024 | 1024x1024 | 1024x1024 | 2048x2048 |
| X射(she)線探測器尺寸 | 50x50mm | 50x50mm | 200x200mm | 400x400mm |
| 分辨(bian)率 | 0.1µm | 0.1/0.01µm | 0.1µm | 0.1µm |
| 定位速度 | 150mm/s | 60mm/s | 150mm/s | 150mm/s |
| 加速度(du) | 300mm/s2 | 250 mm/s2 | 350 mm/s2 | 350 mm/s2 |
| 工(gong)作(zuo)臺承(cheng)重(zhong) | 2kg | 10kg | 40kg | 40kg |
| 電源 | 230V +/-10% | 3x400V/N/PE | 3x400V/N/PE | 3x400V/N/PE |
| 氣(qi)壓 | 7-10bar | 7-10bar | 7-10bar | 7-10bar |
| 儀器自重 | 3000kg | 6000kg | 8500kg | 11000kg |
1). 依據標準ISO 10360和VDI/VDE 2617，使用TP200, WFP測量或(huo)CT傳感(gan)器選擇同(tong)等及更(geng)高(gao)(gao)精(jing)度探針修(xiu)正或(huo)光學(xue)傳感(gan)器選用同(tong)等及更(geng)高(gao)(gao)精(jing)度探針修(xiu)正
2). Temp: 20℃±2k, △=1K/h m≤2kg
