平面度，是屬于形位公差中的一種，指物體表面具有的宏觀凹凸高度相對理想平面的偏差。在傳統的檢測方法中，平面度的測量方法通(tong)常(chang)有：塞規/塞尺測量(liang)法(fa)(fa)、液平(ping)面法(fa)(fa)、激(ji)光平(ping)面干涉(she)儀測量(liang)法(fa)(fa)（平(ping)晶干涉(she)法(fa)(fa)）、水(shui)平(ping)儀/數字水(shui)平(ping)儀測量(liang)法(fa)(fa)、以(yi)及打表(biao)測量(liang)法(fa)(fa)。

　　塞尺測(ce)量法(fa)，只(zhi)(zhi)需一套(tao)可隨(sui)身攜帶的塞尺就可隨(sui)時隨(sui)地(di)進行平面度(du)的粗測(ce)。目前很多(duo)工廠(chang)仍使用該方法(fa)進行檢(jian)測(ce)。由(you)于其精度(du)不高(gao)，常規zui薄塞尺為10um，檢(jian)測(ce)效率(lv)較低，結(jie)果(guo)不夠全面，只(zhi)(zhi)能檢(jian)測(ce)零(ling)件邊緣。

　　液(ye)平(ping)面(mian)(mian)法(fa)，基于連通(tong)器工作原理，適合測量連續(xu)或不連續(xu)的(de)大平(ping)面(mian)(mian)的(de)平(ping)面(mian)(mian)度，但(dan)測量時間長，且對溫度敏(min)感，僅適用于測量精度較低的(de)平(ping)面(mian)(mian)。

　　激光(guang)平面(mian)(mian)干(gan)涉儀測量法(fa)，zui典型的(de)(de)用法(fa)是平晶(jing)干(gan)涉法(fa)。但主要于測量光(guang)潔(jie)的(de)(de)小平面(mian)(mian)的(de)(de)測量，如(ru)千分頭(tou)測量面(mian)(mian)，量規(gui)的(de)(de)工作面(mian)(mian)，光(guang)學透鏡。

    丹青公司(si)聯合德國(guo)LAMTECH的推出(chu)非(fei)接觸激光平面(mian)度測量儀，LAMTECH平面(mian)度快速測(ce)量儀，采用(yong)掠入射(she)光干(gan)涉原理，專注于高精密加工表面(mian)平面(mian)度快速測(ce)量評估, 廣(guang)泛應用(yong)于航空航天，汽車工業(ye)噴油嘴行(xing)業(ye)，泵、閥門密封件表面(mian)，以及光學(xue)工程，激光工程等領(ling)域

      德國LAMTECH平面度測量儀快速測量平面度的測量方法，高效(xiao)快速(su)，即可以用于車間現場全檢(jian)測，也可以用于實驗(yan)室(shi)平面(mian)度測量研究。

　　水平(ping)儀測(ce)量法(fa)，廣泛(fan)用(yong)于工件表面的(de)直線度和平(ping)面度測(ce)量。測(ce)量精度高、穩定性好、體積小(xiao)、攜帶方便。但是用(yong)該方法(fa)測(ce)量時需要反復挪動(dong)儀器位置，記錄各測(ce)點的(de)數(shu)據，費時、費力，調整時間長(chang)，數(shu)據處理(li)程序繁瑣。

　　打表測量法，典型(xing)應用為平板測微儀及三坐標儀，其中優(you)以(yi)三坐標儀為應用zui廣(guang)泛。測量時指(zhi)示器在待測樣品(pin)上移動(dong)，按選(xuan)定(ding)的(de)布點(dian)測取各(ge)測量點(dian)相對于測量基(ji)準(zhun)的(de)數據，再經過數據處理(li)評定(ding)出平面度誤差。但其效(xiao)率較低，通常一個樣品(pin)需要幾分鐘，離15ppm的(de)期望相差甚遠。